散体的描述及基本物性
    1．散体粒子的描述
    (1)面包烤箱形状组成散体的单个粒子的形态呈多样性，因此处理的散体对象呈多样性。如稻谷、大米、小麦颗粒以及通过干燥、晶析、造粒、粉碎、沉淀、混合等单元操作而制成的散体食品颗粒形状是显然不同的；而且即使是同一种类中，因成分、成形因素、饱满度、结团等原因，其形状也是多变的；另外，散体粒子的表面形貌也有差异。
    (2)尺寸  散体粒子的尺寸称颗粒的粒径或粒度，为便于上程应用，应根据要求采用尽可能少的尺寸来表示。常用表示方法有①球形颗粒：用直径；②正方形颗粒：用边长；③规则或不规则的非球形、非正方形颗粒：用能完全包围该粒子的最小长方体的三个边长l>b>h来表示，l、b、h分别称为颗粒的长边、短边和厚度。
    实践应用中，颗粒的单一粒径既可选用I、b、h三个尺寸一起表示，也可用“相当粒径”一个尺寸来表示之。“相当粒径”既可是l、b、h中的任一个尺寸，也可以是由l、b、h中部分或全部进行各种平均运算所得的一个平均值。工程中选取何种“相当粒径”是由该颗粒所参与的物化过程以及颗粒尺寸的测量方法所决定的。
    比如：对颗粒用精选机分级是基于长度差异的，此时可选取相当粒径d=1；同理用圆孔筛筛分时是按宽度分级，选d=b；而如果考虑颗粒表面的吸附作用，则用表面积平均径。
    附带指明：筛分径是指采用通过和不通过两相临标准筛孔的算术平均值或几何平均值；有效粒子径是由粒子的力学性质决定的尺寸表示，如由stokes定律得到粒子的沉降速度而导出的粒子的“相当粒径”。此外，各种将粒子等价近似为规则形状后所采用的等价径未列
    (3)测量粒度测定常用方法为筛析法和显微镜法，此外还有吸附法、流体透过法、沉降法、激光粒度测定法等。①筛析法是用n层筛面把散体分成(n+1)个粒度级别，各级颗粒的粒径用相邻两筛面的孔尺寸表示。该法只能确定颗粒的宽和厚度。②显微镜测量法是把颗粒置于显微镜的载物片上直接测得颗粒的粒度的方法。③吸附法是对各种粉末食品的吸湿等温线分析，导出吸附表面积，再由单位质量粉体表面积求得平均粒子面积的间接测量法。④透过法是利用充填层中散体的气体透过性测定其比表面积的方法。⑤沉降法将散体试样放入液体中，使其在重力下自由沉淀，测其沉降速度群，求得粒度分布情况。⑥激光粒度测定法是通过激光测速仪测定由高速空气喷嘴射出的颗的速度，根据流量通道中粒子大小与其所获加速之间的关系，来求得颗粒粒径。
    必须指出，面包烤箱各种粒度测定方法的不同以及同一方法采用的测定仪器的不同，则所适于测量的粒径范围不同。